Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии» icon

Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии»





Скачать 2.83 Mb.
Название Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии»
страница 7/11
Дата 30.06.2013
Размер 2.83 Mb.
Тип Рабочая программа
1   2   3   4   5   6   7   8   9   10   11

Скрайбирование является одним из методов разделения пластин на кристаллы, заключающееся в том, что на поверхность Полупроводни­ковой пластины резцом, лазерным лучом или другими способами наносят неглубокую риску (англ. scribe), вокруг которой концентрируются механи­ческие напряжения, ослабляющие материалы. Основным достоинством ме­тода скрайбирования наряду с высокой производительностью и культу­рой производства является: малая ширина прорези, а, следовательно, и отсутствие потерь полупроводникового, материала, которых невозможно избежать при использовании других методов разделения пластины на кри­сталлы. Наиболее широко скрайбирование используют в планарной техно­логии изготовления ИС, когда на пластине уже сформированы полупровод­никовые структуры.

Разделение осуществляется в две стадии: вначале пластины скрайбируют, для чего риски наносят между готовыми структурами по свободному полю в двух взаимно перпендикулярных направлениях, а затем разламыва­ют по рискам на прямоугольные или квадратные кристаллы. Операция разламывания. Производится на специальном технологическом обору­довании.

Качество скрайбирования при механическом создании риски резцом и последующей ломки в значительной степени зависит от состояния рабо­чей части алмазного резца. Работа резцов с изношенным режущим реб­ром или вершиной приводит к сколам при скрайбировании и некачествен­ной ломке. Обычно скрайбирование выполняют резцами, изготовленными из натурального алмаза, которые по сравнению с более дешёвыми резцами из синтетических алмазов имеют большую стойкость. Наибольшее распространение получили резцы, имеющие режущую часть в форме трёхгранной или усеченной четырёхгранной пирамиды, режущими элементами которой являются ребра пирамиды.

Средняя стойкость резца (одного режущего ребра) при скрайбировании кремния составляет 25-40 пластин диаметром 100 мм (3500 резов). После скрайбирования 25 - 40 пластин или при появлений сколов на пластине резец необходимо проконтролировать под микроскопом. Как пока­зывает опыт, применять резцы с износом режущего ребра более 10-15 мкм нецелесообразно, так как они не обеспечивают качественного скрайбирования. Кроме того, при чрезмерном износе вершин режущего ребра их восстановление при переточке резца затруднено, к быстрому износу резца приводит скрайбирование пластин с покрытием из окисла кремния или ионного диэлектрика. На таких пластинах необходимо предусматривать специальную (без покрытия) дорожку полупроводникового материала шири­ной 50 - 75 мкм.

Широкое применение нацию также лазерное скрайбирование полупро­водниковых пластин, при котором надрез (риска) образуется не механиче­ским, а электрофизическим способом - путём испарения узкой полосы полупроводникового материала с поверхности пластины с помощью сфо­кусированного лазерного пучка, имеющего большую мощность излучения.

Скрайбирование лучом лазера имеет большое преимущество перед скрайбированием алмазным резцом: на рабочей поверхности пластины не происходит образования микротрещин и сколов вследствие отсутствия механического контакта "режущего инструмента" (лазерного луча) с полупроводниковым материалом; скорость скрайбирования может быть увеличена в несколько раз (до 100 - 200 мм/с) благодаря тому, что луч ла­зера всегда контактирует с поверхностью пластины; возможно скрайбиро­вание пластин с любым, в том числе с диэлектрическим покрытием; воз­можно не только скрайбирование на различную глубину, но и сквозное разделение пластины (без последующего разламывания их на кристаллы).

Размеры риски - ширина и глубина, зона термического влияния лазер­ного луча, а также скорость скрайбирования и равномерность удаления ма­териала по всей длине риски определяется скоростью перемещения пла­стин относительно лазерного луча, мощностью, частотой и длительностью импульсов лазерного излучения, а также размером сфокусированного пят­на.

Современные установки лазерного скрайбирования позволяют по­лучать риски шириной около 30 мкм и глубиной не менее 50 мкм при скорости скрайбирования свыше 50 - 100 мм/с. Зона термического воздей­ствия лазерного излучения составляет при этом не более 50 - 75 мкм, вклю­чая ширину риски. Скрайбирование на большую глубину, в том числе сквозное разделение (на глубину до 200 мкм), выполняют с меньшей ско­ростью (5-10 мм/с).

К недостаткам лазерного скрайбирования следует отнести большую сложность и стоимость оборудования, а также необходимость специальных мер защиты рабочей поверхности от продуктов лазерной обработки, обра­зующихся в процессе испарения материала под воздействием лазерного излучения.


^ Разделение разламыванием. Разламывание выполняется машинным или ручным способом. Руч­ное разламывание обычно позволяет получать больший выход, чем машин­ное. Так как при использовании многорезцовой головки производится одновременное скрайбирование всей пластины, ручное разламывание по­зволяет, если это понадобится, производить разламывание в любой по­следовательности. Обычное разламывание производится таким образом, чтобы на разделение одной пластины приходилось наименьшее число раз­ламываний. Однако при ручном разламывании оператор может "почувст­вовать", когда необходимо дополнительное усилие, и затем в соответст­вии с этим может изменить последовательность. Например, если оказыва­ется, что для разламывания по одной из длинных линий необходимо из­быточное давление, оператор может быстро изменить последовательность и произвести сначала разламывание по белее короткой, линии. Поэтому по­сле того, как пластина расколота на малые части, "трудная" линия будет разделена на части малой длины, благодаря чему разламывание корот­ких частей станет более простым. Другим преимуществом ручного разламывания является возможность Наблюдения оператором каждой линии в процессе разламывания, что позволяет обнаружить заблаговременно линии некачественного реза.

Линия реза коническим алмазным резцом должна, быть очень слабой, без следов образования узора из трещин. Избыточная нагрузка на резец проявляется в виде большого количества отщеплённых кусочков пла­стины. Образующиеся при этом трещины ц сколы образуют картину, по­хожую на выпадение инея; В зависимости от нагрузки такая картина может возникнуть в процессе скрайбирования либо сразу после него, а иногда и нескольких часов спустя. В результате при разламывании линия скола Может начать распространяться вдоль линии скрайбирования, но затем может изменить направление и распространиться вдоль любой из трещин. Поэтому необходимо, чтобы между скрайбйрованием и разламы­ванием проходило минимальное время.

Наиболее распространенными являются методы разламывания проскрайбированных пластин сферой, полуцилиндром и валиком.

Разламывание пластин цилиндрических и сферических (Рисунок 8.1.3) опо­рах позволяет получать кристаллы с соотношением сторон от 1:1 до 1:1,5. Радиус кривизны сферы или полуцилиндра для различных размеров кри­сталлов должен быть различным.

Более универсальным является метод разламывания валиком (Рисунок 8.1.4). Пластину помещают проскрайбированной поверхностью на упругую опору и прокатывают последовательно в двух взаимно перпендикулярных направлениях твердым валиком диаметром 10 – 30 мм. Усилие нагружения подбирается в зависимости от жесткости опоры. Меньший диаметр валика и более жесткие опоры используются при меньших отношениях длины кристалла к толщине пластины (1/Н).




^ Рисунок 8.1.3 Схема пневмогидравлической ломки полупровод­никовых пластин М сферических (цилиндрических) опорах:

а) - исходное положение; б) - положение после разламывания.

При больших значениях параметров отношения 1/Н вместо валика при­меняют клин с небольшим радиусом скругления, который последовательно ориентируют по линиям скрайбирования полупроводниковой пластины (Рисунок 8.1.5). Усилие нагружения при разламывании клином должно быть про­граммируемым.



Рисунок 8.1.4. Разламывание пластины валиком




Рисунок 8.1.5. Схема разламывания клином


Резка подложек. В настоящее время для подложек тонкоплёночных схем использу­емая керамика с высоким содержанием окиси алюминия, является слиш­ком твёрдой для обычного скрайбирования и разламывания. Для резки керамических подложек применяется распиливание алмазным диском, ко­торое состоит из четырёх основных этапов: закрепление и ориентация под­ложки, распиливание, демонтаж и очистка.

^ Закрепление и ориентация. Подложки закрепляются на металличе­ских брусках, поддерживающих подложки в результате распиливания. Для этого они приклеиваются к брускам с помощью гликольфталата при нагреве. Для совмещения подложка помещается точно по отношению к ограничителю на бруске и потенциальная линия реза настраивается парал­лельно прямоугольным краям бруска. Затем брусок с наклеенной подложкой монтируется на магнитном зажимном устройстве установки для резания, В бруске делаются продольные канавки, что позволяет вести резку подложки насквозь, не задевая алмазным диском металла.

Резка. Для операции резания используется установка для прецизионного резания с магнитными зажимными устройствами. На общей оси набирается несколько алмазных дисков что обеспечивает получение большого числа параллельных рёзов. Подгонка расстояний между дисками осуществ­ляется с помощью металлических прокладок и клиньев из пластмассы. Первоначальная настройка бруска по отношению к дискам осуществля­ется с помощью подгонки Поперечной подачи столика. После этого предпо­лагается, что все бруски точно совмещены, если они точно и надёжно устанавливаются по отношению к упору магнитного зажимного устройства. Для уменьшения времени настройки используются два набора дисков, один из которых настраивается для резки в одном направлении и другой - в направлении, перпендикулярном к первому. .

Обычно для получения максимальной производительности требу­ются высокие скорости резания. Выбор конкретной скорости определяется следующими факторами: число дисков на оси, размеры и концентрация ал­мазных кристаллов на диске, требуемое качество обработки края подложки и желательный срок службы Диска. Для получений чистых, близких к по­лированным краев, применяется резка при малой скорости с использова­нием дисков с Мелкозернистыми алмазами с высокой концентрацией по­крытия. Увеличения размеров частиц и скорости реза приводит к более глу­бокой поверхности реза и в Пределе может привести к появлению зазубрин и растрескиванию.

Так как общие размеры схемы должны точно выдерживаться и края подложки должны быть в приемлемой степени гладкими с минимальным количеством зазубрин и трещин, для использования в производстве необхо­димо выбирать алмазные диски высшего качества при скорости резки 100 -200 об/мин.

^ Демонтаж и очистка. После окончания резания по обоим направ­лениям брусок с подложкой снимают с магнитного зажимного устройства и помещают в растворитель. Когда клеящее вещество размягчится, под­ложка снимается с бруска и остатки клеящего вещества удаляются путём дальнейшего отмачивания в растворителе, например, в ацетоне.


8.2 Методы установки кристаллов и плат в корпуса

8.2.1 Монтаж с использованием эвтектических сплавов

В отличие от контактно-реактивной пайки эвтектический сплав образуется не в результате контактного плавления соединяемых материалов, а вводится в качестве припоя между соединяемыми поверхностями кристалла и корпуса.

Пайкой эвтектическими сплавами присоединяют полупро­водниковые кристаллы к корпусам. Золочение контактирую­щих поверхностей каких-либо ощутимых результатов не дает. В качестве эвтектических используют сплавы золото - германий или золото — кремний, диаграммы состояния которых показаны на рисунке 8.2.1.1, а, б.



Рисунок 8.2.1.1. Диаграммы состояния сплавов;

a - золото-германий, б- золото-кремний

Подготовленные к пайке детали нагревают в нейтральной атмосфере (осушенном и очищенном азоте) до температуры, несколько превышающей температуру плавления эвтектичес­кого сплава. Эвтектические сплавы золото — германий и золо­то — кремний содержат (по массе): первый 12 % германия и 88 % золота, а второй - 6 % кремния и 94 % золота. Температура плавления эвтектик золото - германий и золото - кремний, со­ответственно равная 356 и 370 °С, ниже температуры плавления каждого из этих материалов. Эвтектические сплавы являются смесью, а не химическим соединением.

Использование для пайки эвтектического сплава золото -кремний дает хорошие результаты, но сложность приготовления ограничивает его применение. Кроме того, при изготовлении происходит расслоение сплава золото — кремний. Поэтому чаще применяют эвтектический сплав золото — германий ЗлГр12, примерный режим пайки которым на специальной установке приведен ниже.

Температура поверхности столика, ОС……………………….410 + 10

усилие на инструменте, Н……………………………………..0,6 – 0,7

Амплитуда колебаний инструмента, мм 0,08

Время пайки, с 7

При климатических (на термоциклирование) и механических (на вибропрочность и многократные удары) испытаниях выпол­ненные таким образом паяные соединения кристаллов с корпу­сом не разрушаются.

По сравнению с контактно-реактивной пайка эвтектически­ми сплавами обладает рядом достоинств. Так как эвтектичес­кие сплавы имеют невысокую температуру плавления, хорошие жидкотекучесть и способность смачивания, а также незначитель­ное время нагрева до температуры пайки, в паяном соединении не создаются большие остаточные напряжения, образующиеся вследствие разницы ТКЛР соединяемых материалов. Введение эвтектического сплава между соединяемыми поверхностями способствует сглаживанию на них шероховатостей и неровностей.

Нерастекшийся припой свидетельствует о плохой смачивае­мости им золоченой поверхности корпуса и кристалла или о недостаточно высокой температуре пайки. Это является одной из причин низкой прочности паяного соединения. Появление трещин и сколов на кристаллах связано с большим усилием, прикладываемым к рабочему инструменту, или слишком рез­ким подъемом температуры пайки по сравнению с оптимальной.

Пайка кристаллов к контактным площадкам корпусов эвтектическим сплавом состоит из следующих операций: захва­та прокладки ^ 1 из эвтектического сплава, ее переноса и укладки на место пайки (Рисунок 4, а, б); захвата кристалла б, переноса и присоединения его к корпусу 3 (Рисунок 4, в, г). Захват, перенос и удержание прокладок и кристаллов выполняются специальным инструментом — вакуумным пинцетом 2. При этом усилие зах­вата и удержания прокладки (кристалла) создается вследствие перепада давлений.



Рисунок 8.2.1.2. Пайка крис­талла к контактной площадке корпуса эвтектическим спла­вом:

а, б - захват и ук­ладка прокладки, в, г - захват и уклад­ка кристалла на про­кладку и их пайка; 1 - прокладки, 2 -инструмент (ваку­умный пинцет), 3 -корпус, 4 - нагрева­тель, 5 - устройство прижима корпуса к нагревателю, б –кристаллы

8.2.2 Монтаж с использованием клеев и компаундов

Монтаж кристаллов приклеиванием обыч­но применяют при изготовлении полупроводниковых приборов и ИМС общего назначения, так как он довольно прост, экономи­чен, не требует сложного технологического оборудования и поз­воляет получать соединения из различных материалов, обладаю­щие заданными характеристиками.

В качестве клеев широко используют пластмассы - эпоксид­ные смолы, которые обеспечивают достаточную механическую прочность и надежность соединений и имеют низкую температу­ру отверждения, что исключает ухудшение параметров полупро­водниковых приборов и ИМС вследствие перегрева кристаллов.

В зависимости от свойств пластмассы подразделяют на ди­электрические, теплопроводящие и оптические. Пластмассы без наполнителей являются диэлектриками. Если добавить в пласт­массу серебряный порошок в количестве от 60 до 80 % по мас­се, она становится электропроводной и одновременно значитель­но возрастает ее теплопроводность, так как серебро является отличным проводником электрического тока и теплоты.

Для" монтажа кристаллов оптоэлектронных приборов (фото­диодов, фототранзисторов, цифровых индикаторов и др.) тре­буются пластмассы, не содержащие наполнителей, обладающие высокой прозрачностью в диапазоне длин волн 300—700 нм, не изменяющейся в течение длительного времени эксплуатации, малой вязкостью (400-3000 сП) и отверждающиеся при 90— 125 °С в течение 4-24 ч.

При монтаже кристаллов клей наносят либо на их обратную сторону, либо на корпус автоматически небольшими каплями или штемпелем. Иногда применяют таблетки из пластмассы.

Приведем для примера несколько марок клеев, используе­мых при монтаже кристаллов в корпуса. Так, клеиУП-5-201 и УП-5-201Э созданы на основе эпоксидной смолы, модифициро­ваны циклоалифатическими соединениями и соответственно являются токопроводящими и изолирующими. Клей ЭЧЭ-С изготавливается из эпоксидной смолы с серебряным наполнителем и является токопроводящим. Клей УП-5-207М аналогичен по составу клею УП-5-201Э и предназначен для соединения позо­лоченных контактных площадок корпусов и кристаллов.

Токопроводящие клеи отверждаются при 120 ОС в течение 2 ч или при 170 ОС в течение 1 ч, а нетокопроводящие - при 120 и 150 ОС при ана­логичной выдержке.

Монтаж кристаллов пайкой стеклом при­меняют при массовом производстве маломощных однокрис­тальных полупроводниковых приборов, в которых не требуется электрический контакт между нижней поверхностью кристалла и корпусом. Стекло в виде пасты обычно наносят методом тра­фаретной печати или напылением на место монтажа в корпуса,, размягчают нагревая и укладывают кристалл, охлаждая затем, корпус до комнатной температуры.

Корпус ИМС, в котором монтаж кристалла, присоединение выводов и герметизация выполнены стеклом, показан на рисунке 8.2.2.1, а. При этом трафаретной печатью или напылением на контактные площадки керамического основания 5 корпуса под выводы и кристалл, а также на крышку 1 наносят



Рисунок 8.2.2.1. Корпуса ИМС, в которых пайкой стеклом выполняется мон­таж кристалла, присоединение выводов и- герметизация (д), изоляция проводящих слоев и герметизация (б), изоляция токоведущих доро­жек и герметизация (в):

^ 1. - крышка, 2 - стеклянный припой, 3 - рамка, 4 - вывод, 5 - осно­вание, 6 - кристалл, 7 - слой металлизации


стеклянный припой 2, который оплавляют в печи, не допуская кристаллизации. Затем на нагретое до 450 °С керамическое основание 5 монтируют кристалл 6 и присоединяют выводы 4, вдавливая их в размягчен­ное стекло. После этого герметизируют корпус, соединяя крышку с основанием, сжимая их и прогревая при температуре около 500 ОС в течение 5 мин. При повторном нагреве происходит кристаллизация стеклянного припоя, что повышает прочность спая.

В корпусе ИМС, показанном на рисунке 8.2.2.1, б, стеклянный припой 2 последовательно наносят трафаретной печатью на слои метал­лизации 7 для изоляции их друг от .друга. Герметизируют такие корпуса, соединяя стеклянным припоем 2 керамическое основа­ние 5 корпуса с керамической крышкой 1.

В корпусе ИМС, показанном на рисунке 8.2.2.1, в, два слоя стеклян­ного припоя 2 служат для изоляции токоведущих дорожек. Гер­метизируют такие корпуса так же, как показанный на рисунке 8.2.2.1,6.


8.3 Виды выводов.

Создание между контактными площадками кристаллов и корпусов с помощью электродных выводов надежного при различных условиях эксплуатации электрического контакта яв­ляется важным технологическим процессом производства полупроводниковых приборов и ИМС. Присоединение тонких алюминиевых или золотых проволочек — электродных выво­дов — до настоящего времени остается малопроизводительной, трудоемкой и низконадежной операцией, которую выполняют на специальных установках с визуальным наблюдением и ручным ориентированием инструмента, проволоки и мест присоединения, и отдельных случаях стоимость присоединении электродных выводов составляет до 50 % стоимости ИМС. Половина все: отказов ИМС происходит из-за нарушения электрической контакта.

Методы присоединения электродных выводов можно раз делить на проволочные и беспроволочные. К проволочным -наиболее распространенным методам — относятся термокомпрессионная (термокомпрессия), ультразвуковая и микроконтактная сварка, а также пайка, которые будут подробно рас смотрены в следующих параграфах. Ознакомимся с беспроволочными методами, имеющими незначительное применение но являющимися перспективными. К беспроволочным мето дам (отсутствие проволочных электродных выводов) относят монтаж перевернутого кристалла (флип-чип) и кристалл с балочными выводами.

При монтаже перевернутого кристалл (Рисунок 8.3.1, а) вместо проволочных выводов используют выступ*



Рисунок 8.3.1. Монтаж перевернутого кристалла: а — с выступами, б - с шариками; 1 - кристалл, 2 - выс­тупы, 3 - плата, 4 - алюминиевая металлизация, 5 - плен­ка диоксида кремния, б - слои хрома, 7, 10 - припой, 8 - медный шарик, 9 - слой никеля

(столбики) 2 высотой в десятые доли миллиметра, расположен ные в определенных местах полупроводникового кристалла ^ 1 Естественно, что все необходимые соединения на кристалл электрически связывают с выступами. Кристалл переворачиваю выступами вниз, опускают на плату 3 с точно расположенным участками металлизации 4, прикладывают давление и подводя теплоту для образования соединения выступов с платой.

Выступы на кристаллах могут быть изготовлены из низке температурного (мягкого) припоя, а также гальваническим осаждением алюминия или золота. В тех случаях, когда выступы получают гальваническим осаждением, кристаллы присоеди­няют термокомпрессионной или ультразвуковой сваркой.

Монтаж перевернутого кристалла имеет несколько разно­видностей. Например, в качестве выступов используют медные шарики (Рисунок 8.3.1,6). Для этого в кремниевом кристалле 1, имеющем контактные площадки, покрытые пленкой 5 диоксида кремния, изготовляют окна, в которые осаждают три слоя 6 (хрома, хрома с медью и хрома с оловом). Затем на них нано­сят оловянистый припой 7 и укладывают медный никелирован­ный шарик 8, который закрепляют оплавлением мягкого при­поя 10. При совмещении такого выступа с предварительно облуженной контактной площадкой платы 3 и последующем нагреве с приложением давления к кристаллу происходит пайка, обес­печивающая надежное соединение.

Кроме того, применяют монтаж кристаллов, при котором выступы из мягкого припоя имеют контролируемую осадку (Рисунок 8.3.2, а-д). В пленке 2 диоксида кремния изготовляют окна, в которые гальванически на слой металлизации 3 осаждают при­пой 1 (Рисунок 8.3.2, а). При нагревании кристалла 4 припой прини­мает форму сферического выступа 5 (Рисунок 8.3.2,6).

Затем кристалл переворачивают выступом вниз (Рисунок 8.3.2, в), совмещают с платой 7 и нагревают. Выступ расплавляется и взаимодействует с предварительно нанесенным на плату припоем 6 (рис 8.3.2, г.) образуя столбик 8 припоя (Рисунок 8.3.2, д).



Рисунок 8.3.2. Монтаж кристалла с контролируемой осадкой выступов:

а, б - нанесение гальваническим способом припоя и оплавление его, в - переворачивание кристалла, г - на­несение припоя на плату, д - монтаж кристалла на пла­ту; 1,5- припой, нанесенный на кристалл и оплавлен­ный, 2 - пленка диоксида кремния, 3 - слой металли­зации, 4 — кристалл, 6 - припой, нанесенный на плату, 7 - плата, 8 - столбик припоя


Силы поверхностного натяжения расплавленного припои устанавливают кристалл точно на свое место. Так как остальные поверхности кристалла и платы закрыты пленкой 2 диоксиде кремния, не смачиваемой припоем, кристалл припаивается т некотором расстоянии от платы, что исключает закорачивание выступов.

Достоинством монтажа перевернутого кристалла является то, что все соединения выполняются одновременно. Это повышает также ю надежность. Кроме того, использование при монтаже мягкого припое облегчает демонтаж бракованных кристаллов. Пластичность мягкой припоя частично компенсирует температурные напряжения в соединении

Однако этот метод монтажа довольно дорог, так как сложны операции подготовки кристаллов и плат, не обеспечивает хороший теплоотвод от кристаллов и- возможны локальные перегревы вследствие некоторой разницы температур в процессе монтажа. При нарушении технологического процесса сборки могут образовываться короткие замыкания между кристаллами и платами;

При монтаже кристаллов с балочным! выводами, выходящими за их габарит (Рисунок 8.3.3,а), гребенчатое расположение выводов экономит площадь полупроводниковых подложек. Кристалл 2 с балочными выводами 1 обычно присоединяют к слою металлизации 3 на плате 4 термокомпрессионной или ультразвуковой сваркой. Балочные выводы полу­чают на подложках, еще не разрезанных на кристаллы (по груп­повой технологии). Для этого на поверхности подложек со структурами создают в пленке диоксида кремния окна, в кото­рые наносят золото, образующее балочные выводы, а затем трав­лением разделяют подложки на отдельные кристаллы.

Разновидностями монтажа кристаллов с балочными выво­дами являются паучковое соединение и соединение, получаемое напылением балочных выводов.

Паучковое соединение (Рисунок 8.3.3, б) целесообразно приме­нять, когда выводов более десяти. Балки в виде паучка 5 выру­бают из ленты алюминиевой фольги, накладывают на подложку 6 и присоединяют, например термокомпрессией, к контактным площадкам. Затем разделяют паучок на отдельные выводы и монтируют ИМС в перевернутом виде в аппаратуре.



Рисунок 8.3.3. Монтаж кристаллов с балочными выводами: а - конструкция кристалла, б - паучковое соединение, в, г -балочные выводы, изготовленные напылением на столбиках и на плате; 1 - балочные выводы, 2 - кристалл, 3 - слой метал­лизации, 4 - плата, 5 - паучок, 6 -г подложка, 7 - пластмассо­вая пленка, 8 - столбик, 9 — металлическое основание


При соединении, получаемом напылением балочных выво­дов (Рисунок 8.3.3, в)., после выполнения всей пленочной разводки на нужных местах плат создают столбики 8, монтируют между ни­ми кристаллы 2, которые накрывают сверху пленкой термо­пластичного материала (например, фторированным этилен-пропиленом) 7 и получают фотолитографией в пластмассе окна, оставляя незащищенными столбики и лицевые поверхности кристаллов. Затем вакуумным напылением в окна наносят зо­лотую металлизацию (балочные выводы Г), соединяющую кристаллы со столбиками.

Балочные выводы можно получать также на плате (Рисунок 8.3.3, г). Для этого предварительно напылением и фотолитографией создают на плате 4 пленочные балочные выводы, а также отвер­стия, в которые помещают кристаллы 2, присоединяя их ниж­нюю сторону к металлическому основанию 9 (это способствует улучшению теплоотвода), а верхнюю соединяют термокомпрес­сией с балочными выводами.

Достоинствами монтажа кристаллов с балочными выводами являют­ся улучшение условий теплоотвода, отсутствие разрушений кристаллов, так как давление прикладывается к балочному выводу; а также возмож­ность визуального контроля.

В то же время такой монтаж в 2 раза дороже монтажа пере­вернутых кристаллов, так как требуется дополнительная метал­лизация и не допустимы даже незначительные отклонения плат от плоскостности. Кроме того, балочные выводы легко изги­баются (их сечение обычно равно 13x76 мкм), но иногда ло­маются.

Необходимо отметить, что беспроволочные соединения целесообразно применять в массовом производстве при выпуске полупроводниковых приборов и ИМС не менее нескольких миллионов.


8.4 Термокомпрессионная, ультразвуковая и термозвуковая сварки

Термокомпрессия — это процесс соединения двух материалов, нахо­дящихся в твердом состоянии, при воздействии на них теплоты и давле­ния. Температура нагрева соединяемых термокомпрессией материалов не должна превышать температуру образования их эвтектики, и один из материалов должен быть пластинным.

Получение прочного соединения термокомпрессиоиной свар­кой можно объяснись следующим образом. Как известно, иде­альных поверхностей не существует. В микроскоп при сильном увеличении можно увидеть, что на поверхностях контактной площадки полупроводникового кристалла и электродной про­волоки (вывода) имеется множество микровыступов и микро­впадин. Если приложить давление к электродному выводу, изготовленному из пластичного материала, и нагревать, напри­мер, полупроводниковый кристалл, произойдет пластическая деформация микровыступов электродного вывода, а также час-, тачная деформация микровыступов полупроводника и взаимное затекание соединяемых материалов в микровпадины, т.е. термокомпресоионная сварка.

При термокомпрессионной сварке образуется хорошая ад­гезия между полупроводниковым кристаллом и электродным (Выводом и создается надежный электрический контакт. Следует отметить, что чем пластичнее материал электродных выводов/, тем большим коэффициентом адгезии он обладает. Так, золото и алюминий по сравнению с другими материалами, используе­мыми для электродных выводов (медь, серебро), имеют наи­больший коэффициент адгезии, соответственно равный 1,84 и 1,80.

В производстве полупроводниковых приборов и ИМС тер­мокомпрессией соединяют следующие пары материалов: золо­то — кремний, золото — германий, золото — алюминий, золото — золото, алюминий — алюминий, золото — серебро и алюминий — серебро.

Присоединение электродных выводов термокомпрессией может быть выполнено в виде одной или нескольких плоских точек, шарика, а также встык (шариком) и внахлест. Рассмат­ривая присоединение электродных выводов термокомирес-сией, обычно имеют в виду, что сварка выполняется, как пра­вило, в двух местах: один конец вывода приваривают к кон­тактной площадке кристалла (первая сварка), а второй - к выводу корпуса (вторая сварка). В зависимости от принятого тех­нологического процесса присоединения выводов (в это понятие входит также оборудование, конструкция инструмента) термо­компрессию разделяют на шариковую, клином и сшиванием.

Шариковая термокомпрессия (Рисунок 8.4.1,а) ка­ких-либо особых пояснений не требует. Следует только отме­тить, что шарик 5 на конце проволочного вывода может быть получен оплавлением электродной проволоки 1 в пламени во­дородной горелки 4 или прикосновением к электрическому разряднику.

При оплавлении в водородном пламени получают два шари­ка или один. При получении двух шариков один остается свобод­ным на конце уже присоединенного вывода, а другой находится в капилляре 3 (инструменте) и предназначен для приварки оче­редного электродного вывода к кристаллу 7 и контактной пло­щадке 8. Один шарик в водородном пламени получают в том случае, когда горелку используют только для оплавления конца проволоки в шарик, выходящий из капилляра, а не для отделе­ния присоединенного электродного вывода от проволоки при второй сварке.

С помощью разрядника и на конце проволоки образуется только один шарик, которым электродный вывод присоединя­ют к контактной площадке кристалла. Второй конец электрод­ного вывода в этом случае приваривают к корпусу 9 внахлест.

Термокомпрессия клином (Рисунок 8.4.1, б) довольно сложна для выполнения. Сначала необходимо совместить кон­тактную площадку 8 кристалла 7 с инструментом - клином 11 и электродную проволоку 1 (вывод) с его концом. Затем, после сварки, вытянув проволоку из сопла 12, надо проделать те же манипуляции для присоединения второго конца проволоки 1 к корпусу 9. Далее отделяют электродный вывод от остальной части проволоки обрывом, ножницами, перерезанием иглой о край вывода корпуса или обрезкой специальным устройством.

Обрезка специальным устройством считается наилучшим способом, так как конец проволоки не сплющивается (сплю­щенный конец непригоден для следующей приварки) и не оста­ется длинных отрезков, которые не только увеличивают расход проволоки (обычно золотой), но и могут быть причиной обра­зования коротких замыканий.

При термокомпрессии сшиванием (Рисунок8.4.1, в) инструмент представляет собой капилляр 3 с вертикальным осевым отверстием. Иногда этот вид термокомпрессии называют петлевым. Процесс создания проволочных перемычек между кристаллом 7 и корпусом 9 в этом случае во многом напоми­нает обычное шитье. Только при шитье нитка проходит через боковое отверстие иголки, а при термокомпрессии сшиванием —
через вертикальное осевое отверстие инструмента. 1

После приварки конца электродной проволоки ^ 1 к кристал­лу 7 ее вытягивают через капилляр 3, который совмещают с контактной площадкой 8 и выполняют вторую сварку. Затем проволоку обрезают ножницами 13, загибая свободный конец под инструмент.

Термокомпрессию инструментом ввиде "птичьего к л ю в а" (Рисунок 8.4.1, г) относят к термокомпрес­сии сшиванием. Инструмент — "птичий клюв" 14 — состоит из двух частей, между которыми пропускают электродную прово­локу 1. После выполнения обеих сварок проволоку обрывают, перемещая инструмент в сторону от места сварки. Этот ин­струмент сложен в изготовлении и эксплуатации, поэтому имеет ограниченное применение в производстве. В то же время он обеспечивает высокую прочность соединения, так как на элект­родном выводе образуется его отпечаток 10 с ребром жесткости.

^ Необходимо отметить, что каждый способ термокомпрессии харак­теризуется своим отпечатком инструмента на электродном выводе.

Наиболее производительной считается шариковая термоком­прессия, но ее применяют только при сборке полупроводнико­вых приборов с большими контактными площадками, исполь­зуя электродную проволоку диаметром более 20 мкм. При тер­мокомпрессировании золотой электродной проволоки к крем­ниевому кристаллу температура нагрева составляет 350-380 °С, давление 60-100 МН/м2, а время выдержки 2-20 с. При соеди­нении золотой проволоки со слоем золота, напыленным на плен­ку диоксида кремния, температура нагрева должна быть 250-370 °С, давление 60-100 МН/м2, а время 0,5-2 с.

Основным достоинством термокомпрессионной сварки является воз­можность соединения без флюса и припоев мeталлов в твердом состоянии при сравнительно низких температурах и малой их деформации (10— 30 %) как на воздухе, так и в атмосфере формиргаза или сухого водо­рода. Кроме того, термокомпрессия обладает сравнительно высокой технологичностью, заключающейся в простоте подбора режимов и из­готовления оборудования, а также возможности контроля качества сварки.

Недостатки термокомпрессии — ограниченное число пар свариваемых металлов, высокие требования к качеству соеди­няемых поверхностей, сравнительно низкая производительность труда (обычно сварку выполняют под микроскопом).

Для присоединения электродных выводов термокомпрес­сией используют специальные установки, отличающиеся внешним оформлением и некоторыми особенностями конструкции, в основу которых заложены три технологических признака: способ нагрева, конструкция инструмента и вид термокомпрес­сионной сварки. В различных установках термокомпрессии мо­гут нагреваться столик (Рисунок 8.4.2, а), инструмент (Рисунок 8.4.2, б) или одновременно инструмент и столик (Рисунок 8.4.2, в).




Рисунок 8.4.1. Термоком­прессионная сварка шариком (а), кли­ном (б), сшиванием (в), "птичьим клю­вом" (г):

1 - электродная про­волока, 2 - зажим­ное устройство, 3 - капилляр, 4 -водородная горел­ка, 5 - шарик, 6 -электродный вывод, 7,8- контактные площадки кристалла и корпуса (платы), 9 - корпус (плата), 10 - форма отпечат­ка инструмента, 11 - клин, 12 - сопло, 13 - ножницы, 14 -"птичий клюв"




Рисунок 8.4.2. Разновидности термокомпресоионной сварки в зависимости от способа нагрева столика (д), инструмента (б, г), столика и инструмен­та (в):

1 — инструмент, 2 - электродная проволока, 3 - кристалл, 4 - корпус (плата), 5 - столик, б - нагреватель

Разновидностью термокомпрессии является сварка косвен­ным импульсным нагревом (СКИН) инструмента из жаропроч­ного материала, служащего проводником электрического тока (Рисунок 8.4.2, г). При импульсном пропускании электрического то­ка происходит кратковременный перегрев инструмента, в результате чего им можно сваривать электродные выводы из малопластичных металлов (меди, серебряного сплава) с тон­кими металлическими пленками, нанесенными на керамику или полупроводник.

Ультразвуковая сварка — это процесс соединения двух материалов, находящихся в твердом состоянии, при незначительном нагреве с прило­жением определенного давления и колебаний ультразвуковой частоты.

При ультразвуковой сварке температура нагрева в зоне контакта не превышает 50-60 % от температуры плавления сое­диняемых материалов. Контактное давление, подбираемое опыт­ным путем, зависит от механических свойств свариваемых материалов и размеров изготовленных из них деталей. Обычно де­формация деталей, соединяемых ультразвуковой сваркой, не превышает 5—20 % их первоначальных размеров.

Ультразвуковую сварку выполняют в интервале частот от 18 до 250 кГц. Ультразвуковые колебания, воздействуя на сое­динение, нагревают его, освобождают от загрязнений и оксидов поверхности в зоне контакта, ускоряют пластическую деформа­цию электродных выводов. В результате происходит сближение физически чистых поверхностей на расстояние действия меж­атомных сил, взаимная диффузия и прочное соединение двух материалов.

При ультразвуковой сварке не используют флюсы и припои, что яв­ляется ее основным достоинством. Кроме того, этим способом можно соединять разнородные, разнотолщинныс и трудносвариваемые мате­риалы.

Так, с помощью ультразвука хорошо свариваются электрод­ные выводы из золота и алюминия с золотым покрытием, нане­сенным на ситалл по подслою нихрома; алюминиевые электрод­ные выводы с алюминиевой пленкой, нанесенной на стекло, кремний или диоксид кремния; золотые, алюминиевые и мед­ные проволочные выводы ИМС с золотым покрытием, осажден­ным на ковар по подслою никеля.

Установки ультразвуковой сварки оснащаются различными системами передачи ультразвуковых колебаний к месту контак­та свариваемых материалов. Так, для приварки проволочных выводов ИМС обычно применяют ультразвуковую продолъно-поперечную колебательную систему с инструментом, совершаю­щим колебания изгиба (Рисунок 8.4.3).

Ультразвуковые колебания от преобразователя 1 передают­ся по концентратору (волноводу) 2 к расположенному перпен­дикулярно ему сварочному инструменту 3, которой, в свою очередь, передаёт их проволочному элетродному выводу 4 и кристаллу 5. Инструмент, совершая колебания изгиба, воздействует на электродный вывод, притирая его к кристаллу. При этом поверхности контакта очищаются, нагреваются, сближаются и происходит взаимная диффузия атомов.




Рисунок 8.4.3. Ультразвуковая продольно-поперечная коле­бательная система:

1 - преобразователь (вибратор), 2 - концентратор (волновод), 3 - инструмент, 4 - электродный вы­вод, 5 - контактная площадка кристалла, б - уст­ройство крепления, 7, 8 - обмотки возбуждения и подмагничивания


Прочность соединений, полученных ультразвуковой свар­кой, зависит от амплитуды и частоты ультразвуковых колебаний инструмента, контактного усилия, прикладываемого к сваривае­мым деталям, состояния их поверхностей, времени сварки и мощности колебательной системы.

Амплитуду и частоту колебаний инструмента для каждой пары деталей определенной толщины подбирают опытным пу­тем, так как от них зависит динамическая нагрузка, передавае­мая в зоне контакта. Так, для соединения деталей небольшой толщины используют малые амплитуды (0,005-0,015 мм) и повышенные частоты (до 100 кГц).

Пластическая деформация материалов зависит от их физи­ко-механических свойств, толщины и приложенного контактно­го усилия, а также состояния поверхностей. Так, для электрод­ных выводов диаметром От 20 до 50 мкм контактное усилие ле­жит в пределах 0,05 — 1 Н.

Мощность колебательной системы определяется конструк­цией установки, а время сварки зависит от выбранных ампли­туды и частоты колебаний инструмента, контактного усилия, а также свойств свариваемых материалов, их толщины и обычно составляет от нескольких сотых до нескольких десятых долей секунды.

Свариваемые поверхности должны быть чистыми, не иметь жировых пленок и грубых дефектов. Следует помнить, что основным условием высококачественной ультразвуковой свар­ки является свободное контактирование соединяемых поверх­ностей. ,

Интенсификации процесса ультразвуковой сварки способ­ствует косвенный импульсный нагрев инструмента. Одновремен­ное воздействие ультразвуковых колебаний на соединяемые детали и импульсного нагрева инструмента повышает прочность, уменьшает деформацию выводов и позволяет сваривать трудно-свариваемые материалы.


8.5 Методы и материалы для герметизации кристаллов и плат

^ Под герметичностью понимают способность замкнутой конструкции не пропускать газ (жидкость) .

Абсолютно непроницаемых конструкций не существует поэтому герметичность характеризуется допустимой утечкой (течыо) газа (жидкости), измеряемой в единицах потока. Поток газа или жидкости через микроотверстия выражают единицей объема при определенном давлении за определенное время, т.е. в м3•Па/с (1,32•10-4 м3•Па/с = 1 л•мкм рт. ст./с).

Корпуса полупроводниковых приборов и ИМС считаются герметичными при натекании гелия не более 1,32-10"9 м3-Па/с, Герметизация является одной из важнейших заключительных операций технологического процесса производства полупровод­никовых приборов и ИМС, так как обеспечивает их надежность и долговечность при механических и климатических воздейст­виях в условиях эксплуатации. Кроме того, герметизация яв­ляется последней операцией сборки полупроводниковых прибо­ров и ИМС и от качества ее выполнения зависит выход годных изделий.

Подсчитано, что трудоемкость сборочных операций (вместе с герметизацией) некоторых массовых изделий микроэлектро­ники (транзисторов, ИМС) превышает трудоемкость всех дру­гих операций. Забракованные негерметичные приборы пред­ставляют собой довольно дорогие и почти готовые изделия, что заставляет с особой тщательностью относиться к процессам гер­метизации.

Постоянное стремление к повышению компактности, мини­атюризации и быстродействия электронных систем вызывает увеличение плотности рассеиваемой мощности (особенно в ИМС), что усложняет теплоотвод от активных элементов, вы­зывая дополнительные требования к конструкции корпусов и способам их герметизации. В настоящее время установлено, что конструктивное исполнение корпусов и их герметизация не менее сложны, чем создание электронно-дырочных перехо­дов. Исследования показали, что проникновение в процес­се эксплуатации в корпус транзистора даже ничтожного количества влаги может вызвать нестабильность его пара­метров.

Такие способы герметизации корпусов полупроводниковых приборов, как заливка пластмассой, склеивание специальными клеями, стеклоцементами, глазурями или лаками, заварка стек­лом, а также различные виды сварки и пайки, имеют свои дос­тоинства и недостатки.

Герметизация пластмассой, например, пригодна для мас­сового производства изделий микроэлектроники широкого при­менения. Приборы в пластмассовой оболочке характеризуются низкой стоимостью, хорошим внешним видом, групповой технологией производства. Но пластмассовая герметиза­ция не обеспечивает требуемой герметичности при испыта­ниях на климатические воздействия и в условиях эксплуа­тации.

Некоторые корпуса герметизируют, приклеивая керами­ческую крышку к металлокерамическому основанию корпуса. Такая герметизация надежна, не требует дорогостоящего обору­дования, но процессы нанесения и отверждения клея довольно длительны.

Герметизацию стеклоцементами, глазурями, лаками и стек­лом применяют ограниченно.

^ Герметизация корпусов пайкой. В производстве изделий микроэлектроники герметизацию корпусов пайкой используют относительно редко, так как кро­ме, сравнительной простоты (не требуются сложные оснастка, инструмент, оборудование; процесс выполняется без приложе­ния значительных давлений) она имеет ряд недостатков. Так, при герметизации пайкой необходим нагрев полупроводнико­вых приборов и ИМС до 200—420 °С, что ухудшает их парамет­ры. Характерными видами брака при герметизации пайкой яв­ляются образование щелей (непропай) в соединениях, затекание припоя и флюса внутрь корпуса, перекосы деталей, частичное несмачивание поверхностей припоем и др. Кроме того, детали, предназначенные для пайки, должны иметь очень малые откло­нения по плоскопараллельности и зазорам.

При герметизации деталей корпусов пайкой используют кос­венный контактный и бесконтактный нагрев, горячий инертный газ или газопламенный источник.

При пайке с косвенным контактным на­гревом герметизируемый корпус укладывают на нагрева­тель, разогревают вместе с припоем до необходимой температу­ры и накрывают крышкой, а затем прижимают ее и охлаждают корпус. Обычно такую пайку выполняют в среде защитного газа. Недостатком ее являются сложность равномерного нагрева кор­пуса и необходимость тщательной подгонки посадочного места нагревателя к корпусам разных размеров для создания хоро­шего теплового контакта.

При пайке с косвенным бесконтактным нагревом (в конвейерных газовых печах) получают лучшие результаты, так как в этом случае повышаются качество герме­тизации и производительность. Однако пайка в конвейерных пе­чах требует большого количества сложных кассет, а сам процесс недостаточно управляем.

Пайка в струе нагретого инертного газа получила наибольшее распространение. Этим способом, напри­мер, герметизируют корпуса с локальным золочением деталей только в местах соединения, используя в виде отдельной детали припой, состоящий из 99-99,5 % олова и 0,1-1,0 % висмута (сурьмы или серебра). Локальное золочение хотя и усложняет герметизацию, но ограничивает растекание припоя и снижает расход золота. Толщина золотого покрытия составляет не более 1,5-2 мкм.

Пайку в струе нагретого инертного газа применяют также для герметизации металлокерамических корпусов с предвари­тельным нанесением слоя припоя олово — висмут толщиной не менее 0,15 мм по периферии крышки. В этом случае на корпус по периметру, соответствующему форме крышки, также нано­сят слой золота. При нагреве соединяемых деталей струей горя­чего газа слой припоя на крышке плавится, смачивает золотое покрытие и герметизирует корпус.

Иногда никелевые крышки золотят в кислом электролите, используют припой слово-висмут-индий и нагрев в струе го­рячего инертного газа. В процессе образования паяного соеди­нения золотое покрытие полностью растворяется в припое, который взаимодействует с чистой поверхностью никеля, нахо­дящегося под золотом, образуя после кристаллизации прочное герметичное соединение. Шов представляет собой слой припоя с мелкими включениями частиц золота и олова.

Газопламенная пайка с использованием припоя ПОС61 и ф л ю с а, при которой крышку корпуса нагревают подвижным водородно-кислородным пламенем, яв­ляется довольно производительным процессом герметизации (в 8-10 раз выше по сравнению с пайкой косвенным контакт­ным нагревом). Между тем при термических испытаниях таких корпусов на надежность они могут стать негерметичными, так как золотое покрытие крышки в зоне шва не полностью раство­ряется в припое. Оставшийся слой золота при термических ис­пытаниях и эксплуатации приборов или ИМС переходит в припой постепенно и связь крышки с припоем нарушается. Слой золота, который в данном случае применяют для улучшения смачивае­мости, должен быть не более 2-3 мкм, что обеспечивает его полное растворение в припое.

Кроме того, при герметизации полупроводниковых прибо­ров и ИМС пайкой используют микроплазменный нагрев.

^ Герметизиция корпусов контактной контурной электросваркой. Широкое внедрение в производство контактной контурной электросварки стало возможным в связи с созданием промыш­ленного сварочного оборудования и разработкой новых конст­рукций корпусов, пригодных для герметизации этим способом.

В качестве аккумулирующей системы в установках контакт­ной контурной электросварки обычно используется батарея электролитических конденсаторов. Электрическая энергия, на­капливаемая при заряде конденсаторов от источника постоян­ного напряжения (выпрямителя), расходуется при их разряде, превращаясь в процессе сварки в тепловую энергию.

Достоинствами этого вида сварки являются: постоянный расход электроэнергии, что обеспечивает высокую воспроизводимость результатов; кратковременность и концентрированное тепловыделение в месте соединения, обеспечивающее минимальную зону нагрева свариваемых металлов, непосредственно окружающую сварной шов; возможность качественного соединения разнородных металлов и сплавов, плохо сва­риваемых или совсем не свариваемых другими способами.

Кроме того, конденсаторная сварка способствует выравни­ванию фазовой нагрузки и повьпцению коэффициента мощности питающей электросети.

Основными элементами установки контактной контурной электросварки (Рисунок 8.5.1) являются выпрямитель ^ В, преобра­зующий переменный ток в постоянный, батарея конденсаторов С для накопления (аккумулирования) электроэнергии и переключатель П для последова­ло тельного соединения батареи конденсаторов с источником пи­
тания (выпрямителем) и сварочным трансформатором Тр. пред­назначенным для получения в сварочной цепи больших токов при низком напряжении.



Рис 8.5.1. Электрическая схема установки контактной контурной электросварки


Накопленную в батарее конденсаторов энергию (Вт-с) опре­деляют по формуле W = CU2 10~6/2 (где С- рабочая емкость батареи конденсаторов, мФ; U напряжение заряда конденсато­ров, В). Из этой формулы видно, что накопленную в конденса­торах энергию можно регулировать, изменяя их емкость, напря­жение заряда или одновременно оба параметра.

При контактной электросварке соединяемые детали нагре­ваются теплотой, выделяющейся при прохождении через них сварочного тока. Известно два метода нагрева деталей при кон­тактной электросварке: сопротивлением или сопротивлением и оплавлением.


9 Толстопленочная технология

Структурная схема типового технологического процесса. Пасты для проводящих, резисторных и диэлектрических элементов, их характеристики. Методы формирования рисунка. Трафаретная печать. Технология нанесения и вжигания паст. Корректировка номиналов то лето пленочных элементов.


9.1 Пасты для проводящих, резисторных и диэлектрических элементов, их характеристики. Технология нанесения и вжигания паст.


В качестве материала для изготовления толстопленочных элементов принимаются резистивные, диэлектрические и проводящие пасты. Они представляют собой суспензию порошков наполнителя и стекла в какой-либо органической связующей жидкости или растворе. Наполнитель является основой пасты и придает пленкам необходимые резистивные, проводящие или диэлектрические свойства.

Основные требования, предъявляемые к пастам: возможность нане­сения их через трафарет и термообработка (вжигание); воспроиэводимость свойств; хорошая адгезия к подложке; совместимость с дру­гими элементами; соответствующие электрические свойства; способ­ность к пайке и термокомпрессии.

Плата должна быть определенной величиной текучести. Слишком большая текучесть приводит к растеканию пасты и искажению рисун­ка, а «алая текучесть - к плохому продавливанию пасты через тра­фарет.

В качестве наполнителей проводниковых паст используются порош­ки металлов и сплавов с размером частиц не более 5 мкм. Размеры и форма частиц оказывают сильное влияние на физические и электрические свойства толстых пленок. Наполнители наст должны обладать крайне низкой химической активностью при высоких температурах термообработки в оксидирующей среде и при соприкосновении с хи­мически активным стеклом, а также должны быть восприимчивы ft ус­тойчивы (нерастворимы) к воздействий припоя, применяемого при монтаже пайкой. Это объясняется применение в качестве наполните­лей благородных металлов: золота, серебра, сплавов золото-палла­дий, золото-платина,. серебро-палладий и др. Сравнительная оценка проводниковых паст на основе различных наполнителей приведена В таблице 9.1.1.


Свойства проводниковых паст Таблица 9.1.1


Наполнитель

Стоимость

Электропроводность

Адгезия

Устойчивость к расплавленному припою

Контакт с резисторами

Миграция

Au

4

3

4

5

5

2

Pt – Au

5

5

3

3

1

1

Au – Pd

3

4

3

2

3

2

Ag – Pd

2

2

2

3

2

3

Ag

1

1

1

5

4

5


Оценка дана по 5 - балльной системе, 1 - высший балл.

Наряду с приведенными В таблице 9.1.1 наполнителями для проводнико­вых паст применяются неблагородные металлы: медь, никель, алюми­ний, вольфрам, молибден. Они обеспечивают не только меньшую стои­мость паст, но и в ряде случаев лучшие параметры и стабильность при высоких температурах. Медь, например, является единственным металлом с высокой электропроводностью, к которому можно подсое­динять внешние выводы как сваркой, так и пайкой. Кроме того, медь имеет хорошую адгезию к алюмокерамическим подложкам, высокую теплопроводность, стойкость к выщелачиванию, и радиации, хорошие свойства в диапазоне СВЧ.

В качестве наполнителей резистивных паст применяется серебро, золото, палладий, платина, рений, окислы таллия, рутения, рения, палладия, а также различные композиции: серебро-палладий-оксид палладия, серебро-оксид рутения, висмут-рутений, рутений-иридий, платина-оксид иридия и др. Толстопленочные резисторы имеют номи­налы сопротивлений от 1 до 10 Ом, удельное сопротивление от 1 до 107 Ом/а и широкий диапазон значений ТКС.

При изготовлении диэлектрических паст для конденсаторов в ка­честве наполнителей применяют смеси порошков керамических материа­лов и флюсов, а также стекла и ферроэлектрических материалов. Например, пасты на основе композиции титанат бария - оксид титана -оксид алюминия - легкоплавкое стекло имеют диэлектрическую прони­цаемость от 10 до 2000.

Диэлектрики для межуровневой изоляции проводников изготавлива­ют на основе стеклокерамических материалов. Но сравнению с ди­электриками для конденсаторов они обладают меньшей диэлектриче­ской проницаемостью.

В качестве постоянного связующего в состав паст входят стекла, которые не удаляются после формирования пленки и остаются в го­товом пленочном элементе. В проводниковой пасте, стекло служит для удерживания в контакте зерен наполнителя и для обеспечения адгезии толстой пленки к подложке. При выборе состава стекла необходимо учитывать зависимость его вязкости от температуры, смачивание подложки, химическую активность и коэффициент термиче­ского расширения. Эти свойства стекла влияют на режим термообра­ботки, на образование механических связей между зернами металли­ческого наполнителя, на удельное сопротивление пленки и процессы подсоединения выводов к контактным площадкам. От состава стекла в значительной степени зависит стабильность параметров резисто­ров. В диэлектрике, применяемом для межуровневой изоляции провод­ников, постоянное связующее является одновременно и основным функ­циональным компонентом. В диэлектрики конденсаторов стекло не должно вносить дефектов, приводящих к возникновению коротких замыканий между обкладками. В качестве постоянного связующего применяются легкоплавкие стекла: свинцово-боросиликатные, цинкоборо-силикатные, кадмиевые.

В качестве органических связующих и растворителей паст может применяться широкий набор материалов: этилцеллюдоза, воски, лано­лин, вазелиновое масло, циклогексан, жидкие смолы, органические растворители.

Органические связующие и растворители вводятся для обеспече­ния равномерного распределения частиц порошков различных компо­нентов в процессе приготовления пасты, для получения определен­ной консистенции и для придания пасте необходимой вязкости. При нанесении пасты на подложку органические связующие полностью удаляются в процессе термообработки. При неполном удалении орга­нических связующих в составе диэлектрика, например, остается уг­лерод, который резко повышает электропроводность.

Специальные добавки вводят в состав паст для улучшения адге­зии, паяемости, для придания пастам тиксотропности и др.

ТиксотроПностыо называется способность паст под действием механического давления увеличивать текучесть и затем после пре­кращения воздействия давления снова загустевать. Для придания пастам тиксотропных свойств в их состав вводят высокомолекуляр­ные соединения, например, фуранкарбоновую или терефталевую кис­лоты.


9.2 Методы формирования рисунка. Трафаретная печать.

1   2   3   4   5   6   7   8   9   10   11

Ваша оценка этого документа будет первой.
Ваша оценка:

Похожие:

Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии» icon Учебно-методический комплекс для студентов дневной и заочной формы обучения по специальности 260504

Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии» icon Учебно-методический комплекс Рабочая учебная программа Методические указания и индивидуальные задания
О. М. Чикова. Психология акцентуированных личностей: Учебно-методический комплекс. Рабочая учебная...
Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии» icon Учебно-методический комплекс по дисциплине «Анатомия центральной нервной системы» для студентов очной

Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии» icon Учебно-методический комплекс по дисциплине цикла ен. В. 01а для студентов очной и заочной формы обучения

Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии» icon Учебно-методический комплекс «Анатомия и физиология центральной нервной системы» для студентов дневного

Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии» icon Учебно-методический комплекс дисциплины «логопедические технологии» (раздел «технология обследования

Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии» icon Методический комплекс для студентов специальности 270900- технология мяса и мясных продуктов по направлению

Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии» icon Научно-образовательный комплекс По специальности 050701 «Биотехнология» учебно-методический комплекс

Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии» icon Учебно-методический комплекс Для студентов специальности 060105

Учебно-методический комплекс по дисциплине “технология изделий электронно-оптической техники” для студентов специальности т 08. 03. 00 «Электронно-оптические системы и технологии» icon Учебно-методический комплекс Для студентов специальности 060101

Разместите кнопку на своём сайте:
Медицина


База данных защищена авторским правом ©MedZnate 2000-2016
allo, dekanat, ansya, kenam
обратиться к администрации | правообладателям | пользователям
Документы